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2009년 측정 및 테스트 분야 주요 트렌드
작성자: 관리자 2009-08-16 | 6,150
세계 경제 환경의 변화로 예산에 제약이 따르면서 테스트 엔지니어들은 디바이스를 보다 효율적으로 테스트하는 방법을 찾는데 그 어느 때보다 주의를 기울이고 있다. 이에 내쇼날인스트루먼트는 3가지 트렌드인 소프트웨어 정의의 계측, 병렬 처리 기술과 무선 및 반도체 테스트의 새로운 방법들을 제시했다. 이 트렌드는 2009년 테스트와 측정 시스템의 효율성을 상당히 증진시키게 될 것이다. 따라서 엔지니어들은 전체 테스트 비용을 절감할 수 있는 보다 빠르고 유연성 있는 자동화 테스트 시스템을 개발함으로써 상당한 이득을 보게 될 것이다. 소프트웨어 정의의 계측 도입은 2009년 측정과 테스트에서 가장 떠오르고 있는 트렌드다. 엔지니어들이 소프트웨어 정의의 계측을 이용하면 멀티코어 처리와 FPGA와 같은 최신 기술을 테스트 시스템에 적용해 무선 및 프로토콜 인식 테스트와 같은 새로운 애플리케이션 분야의 요구사항을 충족하는 새로운 레벨의 성능을 달성할 뿐 아니라, 테스트 비용도 절감할 수 있다. 이 같은 장점 때문에 소프트웨어 정의 계측의 채택이 증가하고 있다.

소프트웨어 정의 계측 성장

버추얼 인스트루먼트 기술이라고도 알려져 있는 소프트웨어 정의의 계측기는 모듈형 하드웨어와 사용자 정의 소프트웨어로 구성돼 있어, 사용자 정의 측정과 일반적인 하드웨어 구성요소에서 이뤄지는 데이터 처리를 융합시킬 수 있다. 이 같은 유연성은 차세대 내비게이션 시스템, 스마트폰과 같은 전자 장치들이 여러 기능들을 통합하고 새로운 통신 표준 기술과 함께 빠르게 진화함으로써 그 중요성이 부각되고 있다. 소프트웨어 정의의 계측기를 사용하면 소프트웨어 알고리즘의 수정을 통해 테스트 변경 요구사항을 충족시켜 테스트 장비를 빠르게 재구성할 수 있다. “PXI와 같은 소프트웨어 정의 계측기의 개방형 모듈형 아키텍처는 광범위한 업계에 이점이 되는 것으로 입증되면서, 측정과 자동화에서 PXI 수입은 2014년까지 17.6% CAGR 성장할 것으로 기대된다. PXI 플랫폼이 제공하는 성능은 레이더 테스트의 RF 애플리케이션, 이동 전화 테스트 그리고 기타 무선 애플리케이션과 같이 이전의 다른 계측으로는 해결이 불가능했던 분야를 성공적으로 해결하고 있다”고 Frost & Sullivan의 테스트와 측정 업계 매니저인 Jessy Cavazos는 말한다.

병렬 처리 기술 채택 증가
멀티코어 기술은 자동화 테스트 시스템의 표준 기능과 엄청난 양의 데이터를 처리하는 전자 장치들에게 필수사항이 됐다. 소프트웨어 정의 계측은 최신 멀티코어 프로세서와 고속 버스 기술을 이용해 전자 장치들을 디자인하고 테스트하는데 필요한 기가바이트의 데이터를 생성, 캡처 그리고 분석한다. 멀티코어 아키텍처는 본래 병렬방식이 아닌 로우 레벨의 프로그래밍 기술이 필요한 기존의 텍스트 정의 프로그래밍 환경을 사용할 때 발생하는 문제를 해결할 수 있다. 소프트웨어 정의 계측의 또 다른 성장 분야는 FPGA를 위한 시스템 레벨 툴의 증가다. 여러 모듈형 계측기는 현재 FPGA를 탑재해 출시되고 있다(이전에 출시된 고성능 Xilinx Virtex-5 FPGA 포함). 이와 같은 FPGA 정의 계측기들을 이용하면 보다 빠른 속도로 복합 디지털 신호 처리를 구현할 수 있다.

무선 및 프로토콜 인식 테스트의 확대
소프트웨어 정의 계측은 신기술의 개발뿐 아니라 무선 및 프로토콜 인식 테스트와 같이 빠르게 성장하는 분야에 이상적이다. 기존 계측기를 사용하는 테스트 엔지니어들은 주요 통신 표준이 발표되면 벤더들이 이 표준을 테스트하는 독립형의 전용 박스 계측기를 개발할 때까지 기다려야 한다. 엔지니어들은 소프트웨어 정의 계측기를 사용해 일반적인 모듈형 하드웨어 구성요소들을 테스트하고 새로운 무선 표준이 완성되는 시기와 관계없이 시스템에 새로운 무선 프로토콜을 직접 구현할 수 있다. 뿐만 아니라, 반도체 업계에서 복합 SoC와 SiP가 출현하면서 ‘프로토콜 인식 ATE’ 또는 테스트 장비에 연결된 실제 신호를 에뮬레이션 해 장비를 테스트하는 기능에 대한 요구 증가로 이어지고 있다. 반도체 테스트에 대한 증가하는 요구와 전체 테스트 비용을 줄여야 하는 필요성 때문에 Semi conductor Test Consortium과 Collaborative Alliance for Semi conductor Test와 같은 업계 조직들이 PXI와 같은 모듈형의 소프트웨어 정의 계측과 기존 반도체 ATE와의 통합을 지원하는 개방형 테스트 아키텍처 표준을 연구하고 있다. 엔지니어들은 이러한 반도체 테스트 시스템에서 소프트웨어 및 FPGA 정의 계측을 사용해 기존 ATE에서 볼 수 있는 표준 핀 전자장치와의 실시간 응답을 구현해 보다 나은 사용 유형 적용범위의 전체 테스트 비용을 낮추고 오류를 디버깅하는 사용자의 능력을 향상시킬 수 있다.
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